進(jìn)行繼電保護(hù)裝置測(cè)試時(shí)，繼電保護(hù)測(cè)試儀的開入量與保護(hù)裝置動(dòng)作與否、動(dòng)作時(shí)間等息息相關(guān)。 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)繼電保護(hù)跳了，但繼保測(cè)試儀未收到動(dòng)作接點(diǎn)，檢查開入接線、保護(hù)動(dòng)作均良好，單獨(dú)短接開入量進(jìn)行測(cè)試時(shí)也顯示正常。 針對(duì)此類問題，我們可以從開入量的原理入手進(jìn)行分析。

  △ 圖1  開入量端子原理圖    

此電路的工作原理： O₁最小導(dǎo)通電流為I_min，最大工作電流為I_max，回路電流為I，當(dāng)I≥I_min，時(shí)，O₁導(dǎo)通，I＜I_min時(shí)，O₁不通，當(dāng)I＞I_max時(shí)，電路燒壞。 下面我們以不帶電位接點(diǎn)（圖 2）和帶電位接點(diǎn)（圖3）兩種情況進(jìn)行說明。

直接從保護(hù)裝置跳閘端子接線，未引入直流電源回路。 試驗(yàn)時(shí)可能會(huì)出現(xiàn)兩種接法：

1、取1、2兩點(diǎn)接入測(cè)試裝置的開入量COM、A，由于無電位，兩點(diǎn)接線可以任意交換。 此時(shí)，若開關(guān)為分，電路開路， I=0，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)裝置給出跳閘信號(hào)時(shí)，圖中開關(guān)會(huì)由分到合，此時(shí) ，（U1、R1、R2的值固定）光耦導(dǎo)通，測(cè)試裝置記錄動(dòng)作。 此種接法進(jìn)行測(cè)試時(shí)通常不會(huì)出現(xiàn)異常。

2、當(dāng)從1、3兩點(diǎn)接入時(shí)，回路中多串入一個(gè)電阻R，此時(shí) ，電流I的大小取決于R，R越大，I越小，當(dāng)R足夠大導(dǎo)致I＜I_min時(shí)，光耦不通，測(cè)試儀無法檢測(cè)到動(dòng)作。 但實(shí)際上測(cè)試儀無故障、保護(hù)裝置無故障，而是接點(diǎn)選點(diǎn)不對(duì)。

1、COM接點(diǎn)1，A接點(diǎn)2，此種情況開關(guān)未閉合時(shí)電流 ，其中U2為系統(tǒng)電壓，110V或220V，U1為測(cè)試裝置內(nèi)部電壓，一般為24V，此時(shí)電流I＜0，光耦不通。 保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時(shí)，開關(guān)兩端電壓為 0V，此時(shí)電流 ，光耦導(dǎo)通，測(cè)試裝置記錄動(dòng)作。

2、COM接點(diǎn)1，A接點(diǎn)3，此種情況開關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通。 當(dāng)保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時(shí)，開關(guān)兩端電壓為 0V，此時(shí)電流 ，光耦還是不通，測(cè)試裝置無法記錄動(dòng)作，因此此種接法錯(cuò)誤。

3、COM接點(diǎn)2，A接點(diǎn)3，此種情況開關(guān)未閉合時(shí)，電流 ，若R較小，能使I≥I_min，則光耦導(dǎo)通，當(dāng)保護(hù)跳閘，開關(guān)閉合時(shí)，電阻R上的電壓U_R=U2，電流 ，光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌ǎ瑺顟B(tài)有變化，測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作時(shí)間。 若 R較大，使得開關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通，此種情況無論開關(guān)是否閉合，光耦均不通，測(cè)試裝置無法正常記錄保護(hù)動(dòng)作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣，能否正常測(cè)試均取決于 R的大小，一般不建議采用。

除此之外，還有其他接線方法以及純電位高低的測(cè)試，其原理和以上列舉的基本類同，不再贅述。

綜上所述，現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)，無論是不帶電位接點(diǎn)還是帶電位接點(diǎn)，接線盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線方式，通常不會(huì)出現(xiàn)異常。 無法正常記錄時(shí)，可以甩開保護(hù)接線，在測(cè)試裝置運(yùn)行時(shí)用短接線直接對(duì) A和COM短接，若測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作，則可以排除繼保測(cè)試儀的故障。